1)探診深度(PD)：指齦緣至袋底或齦溝底的距離。以mm為單位記錄。健康牙齦的齦溝探診深度不超過2～3mm.用標準的259力探診，在健康狀態(tài)下探針可進入結合上皮;有炎癥時探針會超過結合上皮,進入炎癥區(qū)達健康結締組織冠方。經治療后，結締組織中炎癥細胞浸潤消失，膠原纖維新生，使結締組織對探診的抵抗力增強，探針不再穿透進入結締組織中，而是中止在結合上皮內。
2)附著水平(AL)：指袋(溝)底至釉牙骨質界的距離，也稱臨床附著水平(CAL)。附著水平的確定是將探診深度減占釉牙骨質界至齦緣的距離，以mm為單位記錄;若有齦退縮，則是將探診深度加上齦退縮的距離。
附著水平是反映牙周組縱破壞程度的重要指標之一，有無附著喪失是區(qū)分牙周炎與牙齦炎的重要指標。正常的牙齦附著于釉牙骨質界處，不能探到釉牙骨質界，即無附著喪失;患牙齦炎時，牙齦附著的位置不變，仍在釉牙骨質界處，即使因牙齦腫脹而導致探診深度增加，星恒教育搜集整理臨床上同樣不能探到釉牙骨質界，無附著喪失;牙周炎時因有附著喪失，則能探到釉牙骨質界。附著水平對制定治療計劃、確定手術與否及手術方案的制訂、估計預后、及判斷療效均有意義。
3)探診后出血：探診出血這一指標不能作為病情進展的指標，是探診后不出血卻可以作為牙周組織處于穩(wěn)定階段的較好指標。如果多數部位都存在探診出血，可以預示有可能附著喪失在進展，它是附著喪失加重的重要危險指標之一。
4)齦下牙石：齦下牙石是沉積于齦緣之下、附著在齦溝或牙周袋內的牙面上，用探針才能檢查到。
5)根分叉病變的探查：用普通的彎探針或專門設計的Nabers探針探查多根牙的分叉區(qū)。檢查上頜磨牙時，先探查頰側中央處的根分叉區(qū)，再從腭側分別探查近中和遠中的根分叉區(qū)，但有的會有變異，需從頰側探入;檢查下頜磨牙時，從頰側和舌側中央處分別探查根分叉區(qū)。探查的內容應包括：探針能否水平方向探入分叉區(qū)，水平探入的深度，分叉的大小，有無釉質突起，根柱的長度，根分叉區(qū)是否有牙齦覆蓋，注意檢查根分叉區(qū)是否暴露。
來源于口腔醫(yī)學網
